Méthode de test consistant à utiliser le port JTAG pour vérifier la qualité ou programmer des composantes Boundary-Scan populées sur un circuit imprimé.
Elle couvre les domaines suivants :
- Test de connexion & d’interconnexion
- Test de clusters
- Test de mémoires (DRAM, SDRAM, SRAM)
- Composantes programmables (CPLD, FPGA, FLASH, Serial PROM)
Station de test : JTAG Technologies
